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PRODUTOS
Reflectómetro de Filme Fino
Cód. HO-HAI-TFR-01SP
PRINCIPAIS CARACTERÍSTICAS
As propriedades ópticas de películas finas pode ser caracterizado pela sua análise espectroscópica de refletância. O modelo Reflectómetro: HO-HAI-TFR-01SP permite ao utilizador analisar a espessura das camadas ópticas de 200A a 500 μm.
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As propriedades ópticas de películas finas pode ser caracterizado pela sua análise espectroscópica de refletância. O modelo Reflectómetro: HO-HAI-TFR-01SP permite ao utilizador analisar a espessura das camadas ópticas de 200A a 500 μm.

O equipamento demonstra ser um instrumento preciso para medir a refletância espectral de substratos, filmes individuais e pilhas de camada na faixa VIS-NIR espectral. Ele permite a medição da espessura, índice de refração de filmes transparentes em substratos reflexivos, transparentes e absorventes.

Você pode realizar uma única medição de espessura com este sistema com uma resolução de 0,1 nm. Os materiais de película e de substrato pode ser semicondutores metálicos, dielétricas, amorfa ou cristalina.

Usando o software de análise que vem com este reflectómetro, você pode analisar de camada única ou filmes multicamadas, como revestimentos anti-risco, revestimentos duros e revestimentos anti-reflexo. O software também oferece recursos para compensar a rugosidade da superfície. As propriedades ópticas do substrato e os filmes podem ser introduzidos diretamente ou pode ser escolhido a partir do utilizador biblioteca, materiais extensíveis contendo constantes ópticas de centenas de materiais. O software também facilita a modelagem parametrizada utilizando Cauchy e outras constantes de modelagem.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Características

  • Analisar filmes simples ou multi-camada
  • Resolução: 0,1 nm
  • Sonda de fibra óptica para medição de refletância no ângulo incidência normal
  • Sensor de imagem CCD matriz linear para medição simultânea de refletância em cada comprimento de onda
  • Biblioteca materiais extensíveis de usuários
  • Os dados podem ser salvos como um arquivo de texto Excel ou
  • Algoritmo de ajuste matemática avançada
  • Medição da espessura FFT base
  • Extração de espessura e constantes ópticas
  • Modelos com parâmetros
  • Escala da espessura a partir de 500 m 200A
  • n e k medição: até 100 nm  
  • Comprimento de onda: 400nm - 1000nm
  • CDS 215 Espectrômetro
  • Tamanho de ponto: 1 milímetro
  • Medição de camadas individuais
  • Medição de multicamada

 

Especificações

          Faixa de medição de espessura: 20 nm a 500 mícrons

          Faixa de espessura

          Ao medir n e k: até100 nm

          Precisão: 1 Angstrom

          Espectrômetro: Spectra CDS 215

          Comprimento de onda: 400nm a 1000nm

          Resolução de comprimento de onda: 2 nm

          Acoplamento: Fibra Óptica Juntamente SMA

          Fonte de luz: lâmpada de halogéneo de quartzo Tungsten

          Potência Óptica: 20W

          Tamanho de ponto de luz: 1mm

          Medidas: únicas e multe

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