As propriedades ópticas de películas finas pode ser caracterizado pela sua análise espectroscópica de refletância. O modelo Reflectómetro: HO-HAI-TFR-01SP permite ao utilizador analisar a espessura das camadas ópticas de 200A a 500 μm.

O equipamento demonstra ser um instrumento preciso para medir a refletância espectral de substratos, filmes individuais e pilhas de camada na faixa VIS-NIR espectral. Ele permite a medição da espessura, índice de refração de filmes transparentes em substratos reflexivos, transparentes e absorventes.

Você pode realizar uma única medição de espessura com este sistema com uma resolução de 0,1 nm. Os materiais de película e de substrato pode ser semicondutores metálicos, dielétricas, amorfa ou cristalina.

Usando o software de análise que vem com este reflectómetro, você pode analisar de camada única ou filmes multicamadas, como revestimentos anti-risco, revestimentos duros e revestimentos anti-reflexo. O software também oferece recursos para compensar a rugosidade da superfície. As propriedades ópticas do substrato e os filmes podem ser introduzidos diretamente ou pode ser escolhido a partir do utilizador biblioteca, materiais extensíveis contendo constantes ópticas de centenas de materiais. O software também facilita a modelagem parametrizada utilizando Cauchy e outras constantes de modelagem.

Características

• Analisar filmes simples ou multi-camada
• Resolução: 0,1 nm
• Sonda de fibra óptica para medição de refletância no ângulo incidência normal
• Sensor de imagem CCD matriz linear para medição simultânea de refletância em cada comprimento de onda
• Biblioteca materiais extensíveis de usuários
• Os dados podem ser salvos como um arquivo de texto Excel ou
• Algoritmo de ajuste matemática avançada
• Medição da espessura FFT base
• Extração de espessura e constantes ópticas
• Modelos com parâmetros
• Escala da espessura a partir de 500 m 200A
• n e k medição: até 100 nm  
• Comprimento de onda: 400nm - 1000nm
• CDS 215 Espectrômetro
• Tamanho de ponto: 1 milímetro
• Medição de camadas individuais
• Medição de multicamada

Especificações

          Faixa de medição de espessura: 20 nm a 500 mícrons

          Faixa de espessura

          Ao medir n e k: até100 nm

          Precisão: 1 Angstrom

          Espectrômetro: Spectra CDS 215

          Comprimento de onda: 400nm a 1000nm

          Resolução de comprimento de onda: 2 nm

          Acoplamento: Fibra Óptica Juntamente SMA

          Fonte de luz: lâmpada de halogéneo de quartzo Tungsten

          Potência Óptica: 20W

          Tamanho de ponto de luz: 1mm

          Medidas: únicas e multe