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PRODUTOS
Difratômetro de raios X de bancada
Cód. TDM-10 XRD
PRINCIPAIS CARACTERÍSTICAS
Difratômetro compacto de raios X para análise estrutural e microestrutural. Difratômetro de raios-X extensivamente utilizado pela Indústria, Agricultura, Farmácia, Minerais, Segurança Alimentar, Petróleo, Educação, Pesquisa e assim por diante.
Mais Detalhes do Produto
Difratômetro de raios X de bancada TDM-10 XRD
XRD inclui analisador de espectro de fluorescência, cristal analisador de raios X. Seu esquema triplo de proteção isolado contra interferência torna os instrumentos superiores, com taxa de falha extremamente baixa, o que também prolonga a vida útil. Os produtos têm sido amplamente utilizados em universidades, faculdades técnicas e instituições de pesquisa, bem como empresas de dióxido de titânio. A série TD XRD está na posição de liderança com sua função de controle avançado, processamento de dados completo e resultados de análise de alta precisão.
TDM-10 XRD usado principalmente para realizar a análise de fase de pó, sólido e materiais relacionados. O tamanho é compacto, leve, baixo consumo de energia, a calibração e análise podem ser realizadas rapidamente, precisão de pico de difração de 0,001°, controlado por computador para exibir a coleta de dados e também para medidas rápidas.
Componentes TDM-10:
Tubo de raios X
Potência de raios X de alta freqüência;
Unidade de controle do goniômetro;
Detector de raios X;
Proteção de raios X;
Sistema de computador;
Opções de Tubo de raios X: Cu, Co, Mo, Fe, Cr, W e Ag.
Tubo de raios X
Potência de raios X de alta freqüência;
Unidade de controle do goniômetro;
Detector de raios X;
Proteção de raios X;
Sistema de computador;
Opções de Tubo de raios X: Cu, Co, Mo, Fe, Cr, W e Ag.
Condição operacional
Temperatura de trabalho: 10～30 ℃ ；
Umidade Relativa (RH): 30％～70％ ；
Fonte de alimentação: monofásica AC220V ± 10 ﹪, 50Hz ± 1;
Capacidade de potência> 600 W
Software de análise de dados
Funções: Suavização, remoção de fundo, eliminação de Kα2, determinação de pico, amostragem mudança de comprimento do passo, remoção de pico indesejado, pico de interferência, ajuste, cálculo de área, largura, FWHM, adição de espectro ou remoção ou combinação, inserção de texto e imagens, copiar e colar trabalhos, separação de picos, determinação de cristalização, refinamento de parâmetros de rede, determinação da estrutura de cristais conhecidos, espectro de difração de XRD.
